芯片eos損壞是什麼意思

EOS失效是在EOS事件發生後，由於過熱導致芯片失效。過熱是芯片內部連接電阻發熱的結果。在低電阻路徑中，在EOS事件期間經歷的高電流會產生局部的高温，從而對芯片結構造成破壞性損壞。

EOS事件需要滿足下列條件：

（1）低電壓，＜100V，峯值電流高（2）高能量，事件作用時間通常大於1ms。