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KPFM是一種掃描探針顯微鏡技術,它能同時捕捉樣品的表面形貌和表面電勢。對於KPFM,振盪的導電探針在掃描樣品表面的同時會施加交流電壓,用來檢測由表面電勢局部變化引起的針尖和樣品之間的靜電力變化。為了最小化所偵測到...
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