楔形薄膜干涉原理

薄膜干涉原理廣泛應用於光學表面的檢驗、微小的角度或線度的精密測量、減反射膜和干涉濾光片的製備等。等傾干涉和等厚干涉是薄膜干涉的兩種典型形式。

由薄膜上、下表面反射(或折射)光束相遇而產生的干涉．薄膜通常由厚度很小的透明介質形成．如肥皂泡膜、水面上的油膜、兩片玻璃間所夾的空氣膜、照相機鏡頭上所鍍的介質膜等．比較簡單的簿膜干涉有兩種，一種稱做等厚干涉，這是由平行光入射到厚度變化均勻、折射率均勻的薄膜上、下表面而形成的干涉條紋．薄膜厚度相同的地方形成同條幹涉條紋，故稱等厚干涉．牛頓環和楔形平板干涉都屬等厚干涉．另一種稱做等傾干涉．當不同傾角的光入射到折射率均勻，上、下表面平行的薄膜上時，同一傾角的光經上、下表面反射(或折射)後相遇形成同一條幹涉條紋，不同的干涉明紋或暗紋對應不同的傾角，這種干涉稱做等傾干涉．等傾干涉一般採用擴展光源，並通過透鏡觀察．