icp質譜的基本原理

原理：測定原子質量的精度超過化學測量方法，大約2/3以上的原子的精確質量是用質譜方法測定的。由於質量和能量的當量關係，由此可得到有關核結構與核結合能的知識。

對於可通過礦石中提取的放射性衰變產物元素的分析測量，可確定礦石的地質年代。質譜方法還可用於有機化學分析，特別是微量雜質分析，測量分子的分子量，為確定化合物的分子式和分子結構提供可靠的依據。由於化合物有着像指紋一樣的獨特質譜，ICP質譜儀在工業生產中也得到廣泛應用。 ICP質譜儀的原理1.利用聚焦的一次離子束在樣品表面上進行穩定的轟擊，一次離子可能受到樣品表面的背散射，也有部分進入樣品表面，這部分離子把能量傳遞給晶格，當入射能量大於晶格對原子的束縛能是，部分原子脱離晶格向表面運動，並且產生原子間的級聯碰撞，當這一能量傳遞到表面，並且大於表面的束縛能時，促使表面原子脱離樣品，謂之濺射2.一次離子引發的濺射大......原理：